半導體缺陷、磊晶檢測、半導體缺陷在PTT/mobile01評價與討論，在ptt社群跟網路上大家這樣說

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現在面臨的失效現象，到底要用什麼工具找到汙染缺陷點？以及那些汙染缺陷，一定得用表面分析工具才能找到嗎？本篇要告訴大家如何選擇適當表面分析 ...

今天我們以電子製造行業的一個案例爲例，來看看如何透過JMP強大的神經網絡建模與資料視覺化，幫助數據分析人員大幅减少異常芯片的識別與偵測時間，幫助 ...

積體電路製程中，晶圓缺陷一直是有礙於產品良率提昇的一項重要因素。在積體電路尺寸日益縮減的同時，晶圓缺陷對良率的影響更值得重視。晶圓製程中諸如微影、蝕刻、薄膜 ...

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晶圓層會顯示刮痕、旋轉缺陷、曝光問題、微粒汙染、熱點、晶圓邊緣瑕疵，還有會影響最終晶片效能的各種不同其他缺陷。如果未能在晶圓層沉積後立即探測出來，則只有在最終 ...

書名：固體缺陷理論．第1卷：絕緣體和半導體中缺陷的電子結構（英文），語言：簡體中文，ISBN：9787510052811，頁數：551，出版社：世界圖書出版公司北京公司， ...